1)Структура технических материалов далеко не всегда соответствует идеальным представлениям о регулярном расположении частиц в кристаллической решетке. Дефектами называют нгесовершенства кристаллического строения, нарушения строго периодического расположения частиц в узлах кристаллической решетки. Они образуются в процессе кристаллизации, под влиянием электрического и магнитного полей, тепловых и механических воздействий, при введении в кристаллы примесей. Так называемые радиационные дефекты возникают при облучении кристаллических материалов потоками частиц и жестким электромагнитным излучением. Классификация структурных дефектов проводится по их пространственной протяжённости. Различают дефекты: точечные (нульмерные), линейные (одномерные), поверхностные (2-х мерные) и объёмные (3-х мерные) дефекты.
Чтобы найти количество молекул нужно умножить количество вещества на число авагадра. Теперь переведем в моль массу озона, разделив ее на молярную массу, которая равна сумме атомарных масс всех входящих в нее атомов: (16*3) =48. 4.8/48 =0.1 моль. 0.1*6*10^23 =6*10^22 Мы уменьшили степень 10, потому что 0.1- это 10^-1, а при перемножении степеней они складываются, поэтому 23+(-1) =22. Теперь найдем объем, умножив количество вещества на 22.4- молярный объем. 0.1*22.4 =2.24 Теперь найдем количество молекул кислорода при той же массе, разделив на молярную массу: 16*2 =32. 4.8/32 =0.15 Теперь помножим на 6*10^23. 0.15*6*10^23 =9*10^22.
