с органикой. Реакцией Вюрца–Фиттига получите 2,3,6,7-тетраметилантрацен, используя любые галогенарены. Рассмотрите механизм реакции. Для продукта реакции приведите схемы: а) окисления, б) сульфирования, в) бромирования в условиях радикального замещения.
S(0) - 4e- --> S(+4) восстановитель
O2 (0) + 4e- -- > 2O (-2) окислитель
2) 2 SO2 + O2 ---> 2 SO3
S(+4) - 2e- --> S(+6) восстановитель
O2 (0) +4e- --> 2O (-2) окислитель
3) SO3 +H2O --->H2SO4
4) H2SO4 +2 NaOH ---> Na2SO4 + 2 H2O
п. 2 H(+) + SO4(2-) + 2 Na(+) + 2 OH(-) ---> 2 Na(+) + SO4(2-) + 2 H20
с. 2 H(+) +2 OH(-) ---> 2 H2O
H(+) + OH(-) ---> H2O
5) Na2SO4 + Ba(OH)2 ---> BaSO4 (осадок) +2 NaOH
п. 2 Na(+) + SO4(2-) + Ba(2+) + 2 OH(-) ---> BaSO4 (осадок) + 2 Na(+) + 2 OH(-)
с. Ba(2+) + SO4(2-) ---> BaSO4 (осадок)
Кристаллические тела остаются твердыми, т.е. сохраняют приданную им форму до определенной температуры, при которой они переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении. Переход из одного состояния в другие протекает при определенной температуре плавления.
Аморфные тела при нагреве размягчаются в большом температурном интервале, становятся вязкими, а затем переходят в жидкое состояние. При охлаждении процесс идет в обратном направлении.
Кристаллическое состояние твердого тела более стабильно, чем аморфное. В результате длительной выдержки при температуре, а в некоторых случаях при деформации, нестабильность аморфного состояния проявляется в частичной или полной кристаллизации. Пример: помутнение неорганических стекол при нагреве.
Кристаллические тела характеризуются упорядоченной структурой. В зависимости от размеров структурных составляющих и применяемых методов их выявления используют следующие понятия: тонкая структура, микро- и макроструктура.
^ Тонкая структура описывает расположение элементарных частиц в кристалле и электронов в атоме. Изучается дифракционными методами рентгенографии и электронографии. Большинство кристаллических материалов состоит из мелких кристалликов - зерен. Наблюдают такуюмикроструктуру с оптических или электронных микроскопов. Макроструктуру изучают невооруженным глазом или при небольших увеличениях, при этом выявляют раковины, поры, форму и размеры крупных кристаллов.
Закономерности расположения элементарных частиц в кристалле задаются кристаллической решеткой. Для описания элементарной ячейки кристаллической решетки используют шесть величин: три отрезка - равные расстояния до ближайших элементарных частиц по осям координат a, b, c и три угла между этими отрезками . Соотношения между этими величинами определяют форму ячейки. По форме ячеек все кристаллы подразделяются на семь систем, типы кристаллических решеток которых представлены на рис.1.