Дело в том, скорее всего, что в подавляющем большинстве случаев мы принимаем, что сила упругости линейно зависит от величины деформации. По определению модуль упругости Е = dSigma/dEpsilon, где dSigma - малое изменение механического наппяжения в материале, dEpsilon - малая упругая деформация образца. В ряде случаев мы принимаем Е = Sigma/Epsilon, что является приближением. Как видно из диаграммы, зависимость линейна лишь на сравнительно небольшом начальном участке, у каждого материала эта диаграмма своя. Некоторые материалы и вовсе деформируются не пропорционально delta x, а, например, (delta x)^2. Но даже если мы приблизительно точно получим уравнение кривой, это будет математическая функция, с той или иной степенью точности ложащаяся на точки и расхождения все равно будут. Плюс нельзя сбросить со счета погрешность измерений. Надеюсь, что я ответил на Ваш вопрос.
Разрешающая микроскопа составляет величину порядка длины волны излучения, в котором ведется наблюдение:
Для видимого света нм, в случае электронного микроскопа разрешающая определяется длиной волны де Бройля ускоренных электронов. Современные электронные микроскопы работают с энергиями электронов порядка 1 кэВ, найдем длину волны де Бройля, соответствующую этой энергии:
м что на несколько порядков меньше длины волны видимого света, таким образом, электронные микроскопы обладают намного большей разрешающей нежели оптические.
По определению модуль упругости Е = dSigma/dEpsilon, где dSigma - малое изменение механического наппяжения в материале, dEpsilon - малая упругая деформация образца. В ряде случаев мы принимаем Е = Sigma/Epsilon, что является приближением. Как видно из диаграммы, зависимость линейна лишь на сравнительно небольшом начальном участке, у каждого материала эта диаграмма своя. Некоторые материалы и вовсе деформируются не пропорционально delta x, а, например, (delta x)^2. Но даже если мы приблизительно точно получим уравнение кривой, это будет математическая функция, с той или иной степенью точности ложащаяся на точки и расхождения все равно будут. Плюс нельзя сбросить со счета погрешность измерений. Надеюсь, что я ответил на Ваш вопрос.
Разрешающая микроскопа составляет величину порядка длины волны излучения, в котором ведется наблюдение:
Для видимого света
нм, в случае электронного микроскопа разрешающая определяется длиной волны де Бройля ускоренных электронов. Современные электронные микроскопы работают с энергиями электронов порядка 1 кэВ, найдем длину волны де Бройля, соответствующую этой энергии: