Найменша комірка, яка зберігає усі елементи симетрії кристалу, називається елементарною коміркою.
Навіть у випадку кристалу із одним сортом атомів елементарна комірка містить кілька атомів. Наприклад, кристал заліза має кубічну об'ємноцентровану ґратку із 2 атомами в елементарній комірці. При високих температурах залізо переходить у фазу з ґранецентрованою кубічною ґраткою із 4 атомами в елементарній комірці.
період або параметр ґратки дорівнює довжині ребра ґратки у напрямі головних осей кристалічної ґратки;
координаційне число (К) характеризує щільність пакування ґратки, визначає кількість найближчих і рівновіддалених атомів у певній кристалічній ґратці;
базис — це кількість атомів (іонів), що належать до однієї ґратки;
атомний радіус — це половина відстані між центрами найближчих атомів у кристалічній ґратці певної кристалічної системи;
коефіцієнт компактності — це відношення об'єму, що займають атоми (іони), до всього об'єму ґратки даного типу.
Дефекти кристалічної ґратки
Дефекти кристалічної ґратки. а — незаповнений вузол (вакансія); б — власний атом між вузлами; в — чужорідний атом між вузлами; г — чужорідний атом у вузлі; д — йон з аномальним зарядом.
Розташування структурних елементів у кристалічних ґратках мінералів рідко відповідає цій класичній картині, яка характеризується послідовним розташуванням у ґратці атомів або йонів (так звані ідеальні кристали). На противагу ідеальним кристалам, для яких характерне правильне розташування і періодичність атомів або йонів, реальні кристали відрізняються рядом відхилень — дефектів кристалічної ґратки (дислокацій). Згідно з загальноприйнятою класифікацією, розрізняють такі дефекти кристалічної ґратки (мал.):
пустий вузол, створений внаслідок випадання з ідеальної ґратки атома або йона;
власний атом або йон ґратки, розташований між її вузлами;
чужорідний атом або йон, розташований між вузлами ґратки;
чужорідний атом, який заміщає власний атом ґратки;
йон у ґратці в нормальному стані, але з аномальним зарядом.
Алкен, который нужно найти: CxHy M(CxHy) = M(N2) * D(N2) = 28*2 = 56 г/моль (обычно в задачах такого типа относительная плотность по чему-то дается только для нахождения молекулярной массы. Поэтому всегда умножайте плотность по... На молекулярную массу этого данного вещ-ва. Например, плотность вещества по водороду = 2 => M (вещества) = 2 * M(H2) = 2 г/моль Весь алкен 100%, углерода 85,7 => на водород остается 100-85,7 = 14,3% или 0,143 дальше есть формула, ее нужно просто выучить: C:H = w(C)/A(C) : w(H)/A(H) = 0,857/12 : 0,143/1 = 0,071 : 0,143 = 1:2 = CH2 - простейшая формула теперь нужно сравнить молекулярные массы: M(CH2) = 14 г/моль M (CxHy) = 56 г/моль => 56/14 = 4 => C4H8 бутен
Найменша комірка, яка зберігає усі елементи симетрії кристалу, називається елементарною коміркою.
Навіть у випадку кристалу із одним сортом атомів елементарна комірка містить кілька атомів. Наприклад, кристал заліза має кубічну об'ємноцентровану ґратку із 2 атомами в елементарній комірці. При високих температурах залізо переходить у фазу з ґранецентрованою кубічною ґраткою із 4 атомами в елементарній комірці.
Типи раток
Кристалічні системи
(Сингонія) 14 ґраток Браве
триклінна Triclinic
моноклінна примітивна базоцентрована
Monoclinic, simple Monoclinic, centered
ромбічна примітивна базоцентрована об'ємноцентрована гранецентрована
Orthorhombic, simple Orthorhombic, base-centered Orthorhombic, body-centered Orthorhombic, face-centered
гексагональна Hexagonal
тригональна Rhombohedral
тетрагональна примітивна об'ємноцентрована
Tetragonal, simple Tetragonal, body-centered
кубічна примітивна об'ємноцентрована гранецентрована
Cubic, simple Cubic, body-centered Cubic, face-centered
Основні параметри кристалічних ґраток[1]:
період або параметр ґратки дорівнює довжині ребра ґратки у напрямі головних осей кристалічної ґратки;
координаційне число (К) характеризує щільність пакування ґратки, визначає кількість найближчих і рівновіддалених атомів у певній кристалічній ґратці;
базис — це кількість атомів (іонів), що належать до однієї ґратки;
атомний радіус — це половина відстані між центрами найближчих атомів у кристалічній ґратці певної кристалічної системи;
коефіцієнт компактності — це відношення об'єму, що займають атоми (іони), до всього об'єму ґратки даного типу.
Дефекти кристалічної ґратки
Дефекти кристалічної ґратки. а — незаповнений вузол (вакансія); б — власний атом між вузлами; в — чужорідний атом між вузлами; г — чужорідний атом у вузлі; д — йон з аномальним зарядом.
Розташування структурних елементів у кристалічних ґратках мінералів рідко відповідає цій класичній картині, яка характеризується послідовним розташуванням у ґратці атомів або йонів (так звані ідеальні кристали). На противагу ідеальним кристалам, для яких характерне правильне розташування і періодичність атомів або йонів, реальні кристали відрізняються рядом відхилень — дефектів кристалічної ґратки (дислокацій). Згідно з загальноприйнятою класифікацією, розрізняють такі дефекти кристалічної ґратки (мал.):
пустий вузол, створений внаслідок випадання з ідеальної ґратки атома або йона;
власний атом або йон ґратки, розташований між її вузлами;
чужорідний атом або йон, розташований між вузлами ґратки;
чужорідний атом, який заміщає власний атом ґратки;
йон у ґратці в нормальному стані, але з аномальним зарядом.
Объяснение:
M(CxHy) = M(N2) * D(N2) = 28*2 = 56 г/моль (обычно в задачах такого типа относительная плотность по чему-то дается только для нахождения молекулярной массы. Поэтому всегда умножайте плотность по... На молекулярную массу этого данного вещ-ва. Например, плотность вещества по водороду = 2 => M (вещества) = 2 * M(H2) = 2 г/моль
Весь алкен 100%, углерода 85,7 => на водород остается 100-85,7 = 14,3% или 0,143
дальше есть формула, ее нужно просто выучить:
C:H = w(C)/A(C) : w(H)/A(H) = 0,857/12 : 0,143/1 = 0,071 : 0,143 = 1:2 = CH2 - простейшая формула
теперь нужно сравнить молекулярные массы:
M(CH2) = 14 г/моль M (CxHy) = 56 г/моль => 56/14 = 4 => C4H8 бутен